正畸侧面相分析（正畸检查中,侧面型可以分为）
- 作者: 彭健达
- 发布时间：2024-11-06
1、正畸侧面相分析
正畸侧面相分析
正畸侧面相分析是通过分析侧位头影测量值，评估个体侧面面貌是否协调、美观的一种方法。其测量系统包括以下几个方面：
1. 鼻唇角和唇颏角：分别衡量鼻尖与上唇、下唇与下巴的夹角大小。正常值分别为90-110度和120-135度。
2. Sella-鼻尖-pogoni线（SN、NA、Pog）：反映面部矢状向发育程度。SN角、NA角、Pog角分别代表颌骨前突、上颌前突和下颌前突。正常值分别为75-85度、22-26度和80-85度。
3. 下颌肌角（Go-Gn-Id）：反映下颌下缘前突程度。正常值为120-135度。
4. Y轴（ANS-PNS）：反映上颌垂直发育程度。正常值为55-65mm。
5. 下颌体角（Ar-Go-Gn）：反映下颌体长度和高度。正常值为115-125度。
通过这些测量值，正畸医生可以评估个体的面部美学是否符合标准，从而制定个性化的正畸治疗方案。例如：
前突型面貌：SL角和NA角较大，Pog角较小，可考虑拔牙矫治。
后缩型面貌：SL角和NA角较小，Pog角较大，可考虑正颌手术矫治。
深覆合：下颌肌角较大，可考虑下颌后退矫治器。
开颌：Y轴较小，可考虑上颌牵引治疗。
正畸侧面相分析是正畸治疗中一项重要的诊断工具，可以帮助正畸医生准确评估个体侧面面貌，制定最优的治疗方案，最终改善其面部美观和功能。
2、正畸检查中,侧面型可以分为
在正畸检查中，侧位像是一种重要的影像学检查，可用于评估患者颌骨和牙齿的发育状况。根据侧位像的表现，可将患者的侧面型分为以下几种：
I 类型：这是理想的咬合关系，上颌和下颌对齐良好，牙齿排列整齐。侧位像上，上颌切牙的唇面与下颌切牙的舌面成一条直线，垂直于颅底。
II 类型：这种类型表现为上颌前突或下颌后缩。侧位像上，上颌切牙的唇面位于下颌切牙的舌面前方，成负向关系。根据上颌和下颌前突或后缩的程度，可 further 细分为 II 类 1 型和 II 类 2 型。
III 类型：这种类型表现为下颌前突或上颌后缩。侧位像上，上颌切牙的唇面位于下颌切牙的舌面之后，成正向关系。根据上颌和下颌前突或后缩的程度，可进一步细分为 III 类 1 型和 III 类 2 型。
其他特殊类型：除了上述三种主要类型外，还存在一些特殊类型，例如：
垂直生长模式：患者的面部高度增加，嘴唇闭合时上下唇之间的距离较长。
水平生长模式：患者的面部宽度较大，嘴唇闭合时上下唇之间的距离较短。
开咬：患者的上下牙齿无法完全咬合在一起，侧位像上可见上颌和下颌之间存在垂直间隙。
深覆合：患者的上颌牙齿过度覆盖下颌牙齿，侧位像上可见上颌切牙的舌面完全覆盖下颌切牙。
通过对患者侧位像的分析，正畸医生可以了解患者的颌面骨骼发育情况、牙齿排列关系和咬合问题，为制定合适的正畸治疗方案提供依据。
3、正畸侧面照拍摄要点
正畸侧面照拍摄要点
目的：
评估颌面结构和面部特征
诊断和制定治疗计划
设备：
全景X光机
头颅定位器
底片
拍摄要求：
1. 正确姿势：
患者站直，脚尖与肩同宽。
头部正中，耳平面与法兰克福平面平行。
嘴唇微闭，牙齿咬合。
2. 头颅定位：
头颅定位器固定患者头部，确保法兰克福平面与底片平行。
鼻尖和额部触碰定位器参考点。
3. X光暴露：
将X光管头对准耳孔，与底片平行。
选择适当的kV和mA参数。
4. 底片处理：
将底片取出并放入显影液中，根据指示时间显影。
固定和清洗底片，使其稳定。
要点：
确保患者放松并保持稳定。
正确调节设备以获取清晰的图像。
严格遵循曝光参数以避免图像过度或曝光不足。
底片处理应遵循规程，以确保图像质量。
注意事项：
拍摄前去除金属饰品和假牙。
患者头部的任何运动或移动都可能导致图像失真。
应在临床医生的指导下拍摄正畸侧面照。
